BGA272测试座

产品规格：
测试座材料：　pei/pps
座头材料：铝合金6061/pei
探针类型： 弹簧探针pogo pin
工作温度：-40 ~ 140度
探针机械寿命： 100k次
探针弹力：20g ~ 40g
功能：
※ 可对未写保护的ic进行清空（格式化），测试ic好坏，大小容量，读取拷贝。※ 如客户手机损坏，字库里的资料很重要，可以用我们的座子读取到里面的资料找回，手机维修，数据恢复的利器。
※ 客户常问这种测试座可不可以烧录资料进ic？※ 答：可以，但需要烧录资料的相应软件，但我们不是芯片方案商，无法提供烧录软件，客户需自己有烧录软件方可烧录，否则只能像u盘一样拷贝。
产品特点：
※根据客户的具体需求，如频率，电流，阻抗等，提供合适的探针、材料和测试结构，实现客户的测试需求。
※测试座的结构可以根据客户的需求定制，提供浮板设计，提供更好的接触，有效的保护被测芯片，提高测试寿命。
※探针可更换，拆卸简单，便于维护。
※ 支持热拔插，可直接插读卡器与电脑连接测试；
※ 兼容有球无球测试，通用性好，降低使用成本，可根据ic选择不同大小限位框进行更换，实现不同大小ic能够通用；
※ 同时兼容：东芝、三星、海力士、intel 、sandisk(新帝) 等品牌ic；
※ 采用进口双头探针，性能稳定使用寿命长，使用寿命是同类产品的10倍以上；
※ 维护方便，不良探针可更换，重复利用率较高，降低使用成本；
※ 采用翻盖式结构,更加便于手动测试，操作方便简单；
※ 采用模具整体成型加弹簧自适应结构，保证不同厚度的ic不需要任何调整即可保证其接触良好测试ic通用性广（厚度0.6-2.0mm 范围都可测试）；
※ 采用浮板结构,定位**,取放ic方便，工作效率更高；
定制翻盖 socket尺寸：
序号
座头尺寸
类型
1
24x34
合金翻盖
2
25x30.5
塑胶翻盖
3
32x45
塑胶/合金/旋钮翻盖
4
50x50
旋钮翻盖
名称
引脚数
间距
尺寸
bga132/152
88
1.0
12x18/14x18
bga272/304
160
0.8
14x18
bga252
160
0.8
12x18
bga316
166
0.8
14x18
emmc
153
0.5
13x11.5
emcp
254
0.5
13x11.5
emcp
221
0.5
13x11.5
ddr3/4
78
0.8
96
0.8
lpddr
178
0.65/0.8
11.5x11
lpddr
200
0.65/0.8
14.5x10