可控硅综合参数测试仪

igbt参数测试设备：
静态参数测试（包括ige / vge(th) / vcesat / vf / ice / vce）；动态参数（开通关断/反向恢复/短路/安全工作区）测试（包括turn_on&off / qrr_frd / qg / rg / uis / sc / rbsoa 等）；老化及可靠性测试（htrb / htgb）。
二极管及可控硅/晶闸管（scr）参数测试设备：
静态参数测试（包括igt/vgt / ih / vtm / vd/id / vr/ir / dv/dt / il ）；动态参数测试（turn_on&off / qrr_frd）；浪涌参数测试itsm；di/dt测试；老化及可靠性测试（高温阻断）；热阻参数测试rth。
产品以高度集成化、智能化、高速高精度、超宽测试范围等竞争优势，将广泛应用于idm厂商、器件设计、制造、封装厂商及高校研究所等。