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扫描电子显微镜sem基本参数
扫描电子显微镜sem 基本参数 放大率:通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率,秦皇岛投射电镜分析,只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到 场深:扫描电子显微镜sem中,位于焦平面上下的一小层区域内的样品点都可以得到良好的会焦而成象。这一小层的厚度称为场深,通常为几纳米厚,所以,sem可以用于纳米级样品的三维成像。 工作距离:工作距离指从物镜到样品高点的垂直距离。 如果增加工作距离,可以在其他条件不变的情况下获得更大的场深。 如果减少工作距离,则可以在其他条件不变的情况下获得更高的分辨率。 通常使用的工作距离在5毫米到10毫米之间。
扫描电子显微镜(sem)之化学方法制备样品
扫描电子显微镜(sem)之化学方法制备样品1、干燥:固定后通常采用临界点干燥法。其原理是:适当选择温度和压力,使液体达到临界状态(液态和气相间界面消失),从而避免在干燥过程中由水的表面张力所造成的样品变形。对含水生物材料直接进行临界点干燥时,水的临界温度和压力不能过高(37.4℃,218帕)。通常用乙醇或等使材料脱水,再用一种中间介质,如醋酸戊酯,投射电镜分析哪家好,置换脱水剂,然后在临界点干燥器中用液体或固体二氧化碳、氟利昂13以及一氧化二氮等置换剂置换中间介质,进行临界干燥。 2、喷镀金属:将干燥的样品用导电性好的粘合剂或其他粘合剂粘在金属样品台上,然后放在真空蒸发器中喷镀一层50~300埃厚的金属膜,以提高样品的导电性和二次电子产额,投射电镜分析价格,改善图象质量,并且防止样品受热和辐射损伤。如果采用离子溅射镀膜机喷镀金属,可获得均匀的细颗粒薄金属镀层,提高扫描电子图象的质量。
电磁透镜
热发射电子需要电磁透镜才能形成光束,因此电磁透镜对于使用热发射电子的sem来说是的。通常组装两个组:
会聚透镜:顾名思义,会聚透镜使用会聚电子束,组装在真空柱中,投射电镜分析中心,位于电子下方。通常不止一个,并且有一组会聚光圈与之匹配。 但是,会聚透镜仅用于会聚电子束,与成像焦点无关。
物镜:物镜是真空柱底部的电磁透镜,负责将电子束的焦点会聚到样品表面。
成像系统
电子通过一系列电磁透镜后成为束流,撞击样品并与样品相互作用,会产生二次电子、背散射电子、欧格电子、x射线等一系列信号。 因此,需要使用二次电子探测器、x射线能谱分析仪等不同的探测器来区分这些信号,以获得所需的信息。尽管x射线信号不能用于成像,但习惯上将x射线分析系统划分为成像系统。
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