硅铁粉检测比表面积检测 硅纯度检测单位

成分分析 综合化学分析 化学定量分析、阴离子-电化学分析、碳硫含量分析、氮氧含量分析、真密度分析、粒度分析等
x射线荧光 元素定性分析、未知样品的半定量分析、定量分析等
原子光谱和质谱 等离子体发射光谱（icp-oes）和等离子体质谱（icp-ms）定性、半定量和定量分析；原子吸收光谱（aas）定量分析。
辉光放电质谱 固体样品的痕量元素分析
x射线光电子能谱 成分表面分析，价态分析，多层膜深度剖析
气相色谱 适用于常见化合物、农药、环境污染物、违禁添加物、化学污染物等残留物的定性及准确定量分析
液相色谱 适用于复杂基质中痕量化合物的精确定量分析，同时兼具定性分析功能
红外光谱
适用于有机、无机、高分子、半导体、复合材料中气态、液态、固态等复杂成分鉴定，微区分析、薄层分析、材料缺陷定位与分析
结构分析 x射线衍射 物相定性、物相定量、晶胞参数、介孔材料小角衍射、纳米材料微结构（晶粒尺寸、微应力）、rietveld结构精修、高温原位衍射(htxrd)、低温原位衍射(ltxrd)、高分辨衍射(hrxrd)、掠入射衍射(gid)、全反射(xrr)、微区衍射、残余应力、织构、电场原位xrd、化学反应原位xrd检测、常温或中低温下单晶结构解析等
拉曼光谱 微区拉曼光谱测量、拉曼mapping、偏振拉曼测试、温场原位拉曼、电催化原位和锂（空）电池原位拉曼测量、与原子力显微镜联用、ters等
原子力显微镜 常温和高温下样品表面三维形貌、粗糙度、膜厚等，pfm/mfm/skm/cafm等多种模式成像，对微区的电学/磁性/力学性质等进行表征，与拉曼光谱联用、ters等
透射电镜 粉体形貌分析、eds定性半定量分析、stem+haadf成像、超薄片样形貌分析、高分辨晶格像、离子减薄、选区电子衍射
扫描电镜 形貌、定性分析、定量分析、面分布、线扫描
热学性能 热物理 常温导热系数、高温导热系数、热震稳定性、线变化、体积密度、比热。
热化学 材料受热过程中的质量变化及晶型转变等物化反应中的热效应，以及热分解温度及材料热分解过程中逸出气体的同时表征。
岩相 二维平面上的视场参数和特征物参数。
热计量 炉温、热电偶、温控仪表及其系统的温度校准。
测氢探头 elh-iv型铝熔体测氢仪专用探头和热电偶的研制生产。
力学性能 力学性能 抗压强度、弯曲强度、抗剪强度、抗拉强度、洛式硬度、维氏硬度、显微硬度、弹性模量、体积密度、吸水率、气孔率。
电学性能 电学性能 介电温谱、介电频谱、体积电阻率、抗电强度、电滞回线、偏置电场下的介电性能、热释电系数等。
闪烁材料表征与测试 闪烁材料表征与测试 分光光度计、量子效率测量系统、精密多道能谱仪、闪烁发光动力学测量仪等。