舟山测厚仪-江苏一六仪器有限公司

江苏一六仪器 x射线荧光镀层测厚仪 元素分析范围：氯（ci）- 铀（u）
厚度分析范围：各种元素及有机物
x射线荧光镀层测厚仪（国产）是一款针对金属电镀层（镀金、镀镍、镀锌、镀锡等）厚度的，通过x荧光照射出产品，每个元素反射出的二次特征谱线，通过检测器分析出强度来金属镀层的厚度，完全达到无损、快速分析的效果，产品广泛应用于电子电器、五金工具、电镀企业（铝平行管、电镀五金），测厚仪，连接器企业、开关企业等。
x射线荧光镀层测厚仪性能优势
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
高分辨率探头使分析结果更加*
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏*传感器保护
minimum φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点x射线荧光镀层测厚仪技术参数
minimum φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
一次可同时分析多达五层镀层
度适应范围为15℃至30℃
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
分析含量一般为2ppm到99.9%
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(ci)- 铀(u) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um
江苏一六仪器 x射线荧光测厚仪工作原理
当原子受到x射线光子(原级x射线)或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空位，原子内层电子重新配位，较外层的电子跃迁到内层电子空位，并同时出次级x射线光子，此即x射线荧光。较外层电子跃迁到内层电子空位所释放的能量等于两电子能级的能量差，因此，x射线荧光的波长对不同元素是特征的，根据元素x射线荧光特征波长对元素做定性分析，根据元素释放出来的荧光强度，来进行定量分析如元素厚度或含量分析。
根据色散方式不同，x射线荧光分析仪相应分为x射线荧光光谱仪(波长色散)和x射线荧光能谱仪(能量色散)。x射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级x射线。它由高压发生器和x光管组成。后者功率较大，用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的x射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。通过测角器以1∶2速度转动分析晶体和探测器，可在不同的布拉格角位置上测得不同波长的x射线而作元素的定性分析。探测器的作用是将x射线光子能量转化为电能，常用的有盖格计数管、正比计数管、闪烁计数管、半导体探测器等。记录单元由放大器、脉冲幅度分析器、显示部分组成。通过定标器的脉冲分析信号可以直接输入计算机，进行联机处理而得到被测元素的含量。
一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集，*efp算法 x射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件，led和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.efp算法结合*定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(ci)- 铀(u) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005umxiao测量面积0.002m㎡ 深凹槽20mm以上
镀层厚度分析仪使用注意事项
1．仪器供电电压必须与仪器铭牌上的电压一致。仪器必须使用三线插头连到一个已接地的插座上。
2．镀层厚度分析仪为精密仪器，建议配备的稳压电源。计算机和仪器应配备不间断电源（ups）。
3．镀层厚度分析仪应特别注意与存在电磁的场合隔离开来。
4．仪器适合在10~40℃（50~104℉）的环境温度下操作使用，在0~50℃（32~122℉）的温度下存放。操作和存放的允许湿度范围在0~65%之间（非冷凝）。在操作过程中，环境温度和湿度应保持恒定。
5．仪器曝晒在阳光下时温度*易超过50℃。所以请不要在这样的环境下操作和存放仪器，以避免高温对仪器造成损害。
6．为避免短路，严禁仪器与液体直接接触。如果液体进入仪器，请立刻关闭仪器并在重新使用前请技术人员整体检查仪器。
7．镀层厚度分析仪不能用于酸性环境和场合。
8．不要弄脏和刮擦元素片或调校标准片，否则会造成读数错误。
9．不要用任何机械或化学的方法清除元素片或调校标准片上的污物。如果必要的话，可以用一块不起毛的布轻轻擦除脏物。
舟山测厚仪-江苏一六仪器有限公司由江苏一六仪器有限公司提供。江苏一六仪器有限公司为客户提供“测厚仪,标准片”等业务，公司拥有“江苏一六仪器”等品牌，专注于仪器仪表等行业。，在江苏省昆山市玉山镇成功路168号的名声不错。欢迎来电垂询，联系人：邓女士。