台式X荧光光谱仪分析过程误差之仪器方面

熟悉台式x荧光光谱仪这个仪器的应该都知道它的原理，是x射线荧光光谱仪是通过x射线管产生的x射线作为激光源，激发光源激发样品产生x荧光射线。根据荧光x射线的波长和强度来确定样品的化学组成。那因为其高效精度高的特点，x荧光光谱仪在我国各行各业应用越来越广泛。所以我们也要着力于研究x荧光光谱仪在分析过程中的误差，那么今天小编来给大家介绍下其中一个方面。
创想台式x荧光光谱仪
x荧光光谱仪仪器方面的误差因素：
1、压片板（或压片头）不光洁，导致分析面不光滑，从而影响测量结果。
2、光路真空度不合适，分光晶体、滤光片选择不佳，使各种射线产生干扰，影响分析。
3、x射线管电压、电流不稳定，从而产生结果波动。
4、随着时间的延长，x光管内部元件尺寸位置变化引起初级x射线强度的变化，或x射线管阳极出现斑痕，靶元素在窗口沉积，给分析结果带来误差。
5、温度的变化，引起分光晶体晶面间距变化，从而影响分光效率。正比计数管高压漂移，温度变化引起管内气体成分变化，影响放大倍数。
6、电子电路的漂移，计数的统计误差，检测过程的时间损失引入的计数误差等。
7、气体的压力、氮气、甲烷气体的流量、温度等辐射通道条件的变化，都会影响光路中气体对x射线的吸收。因此，气瓶的减压阀一旦调好，不要随意再动，特别是更换新气时，一定要尝试着多次调气压，否则，由于气流、气压不稳，使结果产生误差。
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