供应美国博曼原装进口C30-P1探头

美国博曼出品c30-p1探头,用于配置博曼bm-c30铜箔厚度测试仪,测量pcb表面铜箔的厚度创新的设计,确保探头可以垂直测量,获得更高的准确性和重复性。
c30-p1探头的特点:
快速,准确,非破坏性检测铜箔厚度,透明保护罩,确保探头可以垂直测量,可更换式t1探针,用户简易更换,降低使用成本,柔软,高强抗拉导线,坚实耐用,弹性伸缩接触式探针避免铜箔划伤,将铜针放到铜箔表面开始测量。

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