模块测试座

产品特点：
open top 测试座主要用于各种半导体芯片的的自动烧录等。
可根据客户的需求，如频率，电流，阻抗等，提供合适的材料及测试结构。
测试座的结构可以是open top式的，也可以是ate机台式。
可根据客户需求定制各种socket尺寸。
产品规格：
测试座材料：　pei/pps/peek/torlon
座头材料：铝合金6061/pei
探针类型： 弹簧探针pogo pin
工作温度：-40 ~ 140度
探针机械寿命： 100k次
探针弹力：20g ~ 30g
open-top socket尺寸：
序号
a
b
类型
1
26
26
open-top
2
28
30
open-top
3
30
30
open-top
4
44
42
open-top
名称
引脚数
间距
尺寸
qfn48
48
0.35
5x5
qfn12
12
0.4
4x2.5
qfn20
20
3x3
dfn8
8
0.5
2x2
bga8
8
1.56x2.16
qfn8
8
2x2
qfn8
8
2x3
qfn16
16
3x3
bga100
100
7x7
bga144
144
0.65
8x8
qfn20
20
0.65
5x5
qfn8
8
0.8
3x4
qfn8
8
0.8
4x4
dfn8
8
1.27
6x5
qfn8
8
1.27
6x5
qfn8
8
1.27
8x6