CDE-四点探针电阻仪-ResMap 178

cde-四点探针电阻仪-resmap 178
产品型号：resmap 178
产品介绍：cde 的成立旨在为半导体及相关开发和制造高性能、高性价比的晶圆计量工具。cde resmap是一系列适用于各种应用的自动电阻率测绘系统。4点探针测量工具是一种仪器，用于测量导电介质（通常是半导体应用的薄膜）中的薄层电阻（或rs）。resmap model 178已成为成本效益电阻率测量的行业标准。该四点探针旨在满足工艺开发和工具表征工程师的需求，具有所需的准确性、可重复性和可靠性。其庞大的安装群证明了其性能、易用性和低拥有成本。
性能特点：
可靠性
易用性
参数：
产地：美国
晶片处理：手动装载
晶圆尺寸：2英寸至8英寸
尺寸：12英寸x 19英寸x 10英寸
精度：<±0.5%
重复性：0.02%静态，0.1%动态
较小边缘排除：<1.5mm
是否进口：是
封装：厂家制定
性能：良好
可靠性：高
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